Laborator microscopie electronică şi optică

Cuvinte cheie

topografie, rugozitate

Domenii cheie de expertiză, capabilități, competențe - descriere laborator

Microscopul de forţă atomică (AFM) şi Microscopul de tumelare (STM) permite vizualizarea directa a suprafetelor pana la nivel atomic, otinundu-se astfel informati utile in ce priveste dependenta structurii suprafetei in functie de metoda de obtinere.

Accesorii:

AFM:- Cap de scanare de 10μm; Cap de scanare de 110μm

STM: - Capul de scanare de 500 nm

Tip de servicii

Caracterizarea morfologica si topografica a materialelor

Descrierea serviciilor oferite de laborator

Caracterizarea morfologica si topografica a:

Ø  filmelor subţiri

Ø  pulberi

Ø  monocristale

Masuratori de:

Ø  rugozitate a suprafeţei scanate

Ø  număr particule

Ø  analiza particulei

Ø  diametrul particulei

Ø  înalţimea medie a particulei

Ø  volumul unei particule

Ø  aria unei particule

Ministere, autorități publice locale și centrale care pot fi incluse în categoria de beneficiari / utilizatori

Certificări/ Autorizări/ Acreditări deținute de laborator

Datele de contact (telefon, fax, email,

înregistrare ERRIS -adresa website

0256-494413; 0256-204698; mihaelabirdeanu@gmail.com; http://erris.gov.ro/Condensed-Matter-Department

www.incemc.ro